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      • SuperViewW1光學(xué)白光干涉測(cè)量?jī)x

        SuperViewW1光學(xué)白光干涉測(cè)量?jī)x由照明光源系統(tǒng),光學(xué)成像系統(tǒng),垂直掃描系統(tǒng)以及數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)構(gòu)成??梢詫?duì)各種產(chǎn)品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、臺(tái)階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進(jìn)行測(cè)量和分析。

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        產(chǎn)品價(jià)格:960000
        廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
        更新日期:2024-08-10
      • SuperViewW1白光干涉檢測(cè)儀設(shè)備

        SuperViewW1白光干涉檢測(cè)儀設(shè)備載物臺(tái)尺寸為320*200mm(可定制),行程為140*110mm(可定制);測(cè)量的Z向范圍可達(dá)10mm(2.5X鏡頭),Z向的精度可高達(dá)0.1nm??蓽y(cè)各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

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        產(chǎn)品價(jià)格:960000
        廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
        更新日期:2024-08-10
      • SuperViewW1白光干涉光學(xué)測(cè)量?jī)x

        SuperViewW1白光干涉光學(xué)測(cè)量?jī)x以白光干涉技術(shù)為原理,能夠以優(yōu)于納米級(jí)的分辨率,測(cè)試各類表面并自動(dòng)聚焦測(cè)量工件獲取2D,3D表面粗糙度、輪廓等一百余項(xiàng)參數(shù),廣泛應(yīng)用于光學(xué),半導(dǎo)體,材料,精密機(jī)械等等領(lǐng)域。是一款非接觸測(cè)量樣品表面形貌的光學(xué)測(cè)量?jī)x器。

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        產(chǎn)品價(jià)格:960000
        廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
        更新日期:2024-08-10
      • SuperViewW1國(guó)產(chǎn)白光干涉測(cè)量?jī)x

        SuperViewW1國(guó)產(chǎn)白光干涉測(cè)量?jī)x專用于精密零部件之重點(diǎn)部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的非接觸式快速測(cè)量。分辨率0.1μm,重復(fù)性0.1%,應(yīng)用領(lǐng)域廣泛,操作簡(jiǎn)便,可自動(dòng)聚焦測(cè)量工件獲取2D,3D表面粗糙度、輪廓等一百余項(xiàng)參數(shù)。廣泛應(yīng)用于如納米材料、航空航天、半導(dǎo)體等各類精密工件表面質(zhì)量高要求的領(lǐng)域中

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        產(chǎn)品價(jià)格:面議
        廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
        更新日期:2024-08-10
      • SuperViewW1白光干涉三維光學(xué)輪廓儀

        SuperViewW1白光干涉三維光學(xué)輪廓儀以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像,通過(guò)系統(tǒng)軟件對(duì)器件表面3D圖像進(jìn)行數(shù)據(jù)處理與分析,并獲取反映器件表面質(zhì)量的2D、3D參數(shù),可測(cè)各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

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        產(chǎn)品價(jià)格:面議
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        更新日期:2024-08-10
      • SuperViewW1中圖白光干涉儀

        中圖白光干涉儀采用了CCD取代了顯微鏡中的目鏡,可以直接從電腦上實(shí)時(shí)視頻窗口觀察樣品表面形貌,也可以通過(guò)重建后的樣品表面3D圖像觀察表面形貌,樣品表面形貌展示得更加清晰,圖像更大,觀察更加方便。

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        更新日期:2024-08-10
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