NS系列納米級臺階高度儀線性可變差動電容傳感器(LVDC),具有亞埃級分辨率,13μm量程下可達(dá)0.01埃。高信噪比和低線性誤差,使得產(chǎn)品能掃描到幾納米至幾百微米臺階的形貌特征。主要用于臺階高、膜層厚度、表面粗糙度等微觀形貌參數(shù)的測量。
SuperViewW白光干涉三維形貌輪廓儀納米級分辨率,非接觸式測量各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等,廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業(yè)及航空航天、科研院所等領(lǐng)域中。
中圖儀器CEM3000臺式掃描電子顯微鏡是一款用于對樣品進(jìn)行微觀尺度形貌觀測和分析的緊湊型設(shè)備。儀器操作簡便,樣品一鍵裝入,自動導(dǎo)航和一鍵出圖能力(自動聚焦+自動消像散+自動亮度對比度)幫助用戶在短短幾十秒內(nèi)就可獲取高清圖像,大大提升了使用效率。
SuperViewW1白光干涉三維表面測量系統(tǒng)以3D非接觸方式,測量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。它集成X、Y、Z三個方向位移調(diào)整功能的操縱手柄,可快速完成載物臺平移、Z向聚焦、找條紋等測量前工作。
CEM3000一鍵自動聚焦掃描電鏡空間分辨率出色和易用性強(qiáng),用戶能夠非??旖莸剡M(jìn)行各項操作。甚至在自動程序的幫助下,無需過多人工調(diào)節(jié),便可一鍵得到理想的拍攝圖片。
CEM3000高分辨率鎢燈絲掃描電鏡空間分辨率出色和易用性強(qiáng),用戶能夠非常快捷地進(jìn)行各項操作。甚至在自動程序的幫助下,無需過多人工調(diào)節(jié),便可一鍵得到理想的拍攝圖片。CEM3000系列上還運用了快速抽放氣設(shè)計,讓用戶在使用時不再等待,且全系列可選配低真空系統(tǒng),以便精準(zhǔn)調(diào)節(jié)樣品倉內(nèi)真空度,滿足不同樣品的觀測需求。
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