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      白光干涉三維表面測量系統(tǒng)

      簡要描述:SuperViewW1白光干涉三維表面測量系統(tǒng)以3D非接觸方式,測量分析樣品表面形貌的關鍵參數(shù)和尺寸。它集成X、Y、Z三個方向位移調整功能的操縱手柄,可快速完成載物臺平移、Z向聚焦、找條紋等測量前工作。

      • 廠商性質:生產廠家
      • 更新時間:2024-12-25
      • 訪  問  量:218

      詳細介紹

      品牌中圖儀器產地國產
      加工定制

      SuperViewW1白光干涉三維表面測量系統(tǒng)以3D非接觸方式,測量分析樣品表面形貌的關鍵參數(shù)和尺寸。它集成X、Y、Z三個方向位移調整功能的操縱手柄,可快速完成載物臺平移、Z向聚焦、找條紋等測量前工作。

      白光干涉三維表面測量系統(tǒng)

      SuperViewW1白光干涉三維表面測量系統(tǒng)廣泛應用于半導體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業(yè)及航空航天、科研院所等領域中??蓽y各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。


      產品特點

      1、干涉物鏡

      不通倍率的鏡頭,適應于從超光滑到粗糙度各種表面類型的樣品。

      2、雙通道氣浮隔振系統(tǒng)

      外接氣源和加壓裝置直接充氣的雙通道氣浮隔振系統(tǒng),可有效隔離地面?zhèn)鲗У恼駝釉肼暋?/p>

      3、聲波隔振防護

      儀器外殼與內部運動機構采用了分離式設計,有效隔離了聲波振動的傳導。

      4、水平調整裝置

      傾斜調整旋鈕,調整條紋寬度,提高3D圖像的重建精度。

      5、便攜式操縱桿

      采用人體工程學設計,集成了XYZ三軸位移和速度、光源亮度的自動控制,并配有緊急停止按鈕。

      6、真空吸附臺

      專為半導體晶圓片定制的真空吸附臺,確保樣品在測量過程中不受空氣中微弱氣流擾動的影像。

      7、3D重建算法

      自動濾除樣品表面噪點,在硬件系統(tǒng)的配合下,測量精度可達亞納米級別。

      白光干涉三維表面測量系統(tǒng)

      產品功能

      1)樣件測量能力:單一掃描模式即可滿足從超光滑到粗糙、鏡面到全透明或黑色材質等所有類型樣件表面的測量;

      2)單區(qū)域自動測量:單片平面樣品或批量樣品切換測量點位時,可一鍵實現(xiàn)自動條紋搜索、掃描等功能;

      3)多區(qū)域自動測量:可設置方形或圓形的陣列形式的多區(qū)域測量點位,一鍵實現(xiàn)自動條紋搜索、掃描等功能;

      4)自動拼接測量;支持方形、圓形、環(huán)形和螺旋形式的自動拼接測量功能,配合影像導航功能,可自定義測量區(qū)域,支持數(shù)千張圖像的無縫拼接測量;

      5)編程測量功能:支持測量和分析同界面操作的軟件模塊,可預先配置數(shù)據(jù)處理和分析步驟,結合自動單測量功能,實現(xiàn)一鍵測量;

      6)數(shù)據(jù)處理功能:提供位置調整、去噪、濾波、提取四大模塊的數(shù)據(jù)處理功能;

      7)數(shù)據(jù)分析功能:提供粗糙度分析、幾何輪廓分析、結構分析、頻率分析、功能分析等五大分析功能。

      8)批量分析功能:可根據(jù)需求參數(shù)定制數(shù)據(jù)處理和分析模板,針對同類型參數(shù)實現(xiàn)一鍵批量分析;

      9)數(shù)據(jù)報表導出:支持word、excel、pdf格式的數(shù)據(jù)報表導出功能,支持圖像、數(shù)值結果的導出;

      10)故障排查功能:配置診斷模塊,可保存掃描過程中的干涉條紋圖像;

      11)便捷操作功能:設備配備操縱桿,支持操縱桿進行所有位置軸的操作及速度調節(jié)、光源亮度調節(jié)、急停等;

      12)環(huán)境噪聲評價:具備0.1nm分辨率的環(huán)境噪聲評價功能,定量檢測出儀器受到外界環(huán)境干擾的噪聲振幅和頻率,為設備調試和故障排查提供定量依據(jù);

      13)氣浮隔振功能:采用氣浮式隔振底座,可有效隔離地面?zhèn)鲗У恼駝釉肼?,確保測量數(shù)據(jù)的高精度;

      14)光源安全功能:光源設置無人值守下的自動熄燈功能,當檢測到鼠標軌跡長時間未變動后會自主降低熄滅光源,防止光源高亮過熱損壞,并有效延長光源使用壽命;

      15)鏡頭安全功能:雙重防撞保護,軟件ZSTOP防撞保護,設置后即以當前位置為位移下限位,不再下移且伴有報警聲;設備配備壓力傳感器,并在鏡頭處進行了彈簧結構設計,確保當鏡頭碰撞后彈性回縮,進入急停狀態(tài),大幅減小碰撞沖擊力,有效保護鏡頭和掃描軸,消除人為操作的安全風險。


      自研3D顯微測量軟件平臺Xtremevision Pro

      白光干涉三維表面測量系統(tǒng)

      Xtremevision Pro

      全自主開發(fā)的第二代顯微3D測量軟件平臺,集成了圖像掃描、3D分析、影像測量、自動化測量等四個大的功能模塊,能夠適配中圖W系列、VT系列、WT系列所有3D儀器機型,可自主識別機型種類,二合一機型可在白光干涉和共聚焦顯微鏡中做到自動切換掃描模式。

      Xtremevision Pro 移植了中圖在影像閃測領域的成功經驗,重構了顯微影像測量功能,可針對微觀平面輪廓尺寸的點、線間的距離、角度、半徑等參數(shù)進行直接測量和自動匹配測量。

      白光干涉三維表面測量系統(tǒng)

      自動化mark點識別坐標定位自動化功能

      Mark點影像識別自動坐標位置校正,多區(qū)域坐標點自動定位測量與分析,可組合式完成粗糙度、輪廓尺寸的批量自動化測量。

      白光干涉三維表面測量系統(tǒng)

      自動拼接功能

      支持方形、圓形、環(huán)形和螺旋形式的自動拼接測量功能,配合影像導航功能,可自定義測量區(qū)域,支持數(shù)千張圖像的無縫拼接測量。


      應用領域圖片

      對各種產品、部件和材料表面的粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、臺階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進行測量和分析。

      白光干涉三維表面測量系統(tǒng)


      部分技術指標

      型號

      W1

      光源白光LED
      影像系統(tǒng)1024×1024
      干涉物鏡

      標配:10×

      選配:2.5×、5×、20×、50×、100×

      光學ZOOM

      標配:0.5×

      選配:0.375×、0.75×、1×

      標準視場0.98×0.98㎜(10×)


      XY位移平臺

      尺寸
      320×200㎜
      移動范圍140×100㎜
      負載10kg
      控制方式手動和電動兼容型
      Z軸聚焦行程100㎜
      控制方式電動
      臺階測量
      可測樣品反射率0.05%~100
      主機尺寸700×600×900㎜
      懇請注意:因市場發(fā)展和產品開發(fā)的需要,本產品資料中有關內容可能會根據(jù)實際情況隨時更新或修改,恕不另行通知,不便之處敬請諒解。

      如有疑問或需要更多詳細信息,請隨時聯(lián)系中圖儀器咨詢。

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