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      超分辨率轉(zhuǎn)盤共聚焦顯微鏡

      簡要描述:VT6000超分辨率轉(zhuǎn)盤共聚焦顯微鏡以共聚焦技術為原理,結合精密縱向掃描等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像,是實現(xiàn)器件表面形貌3D測量的光學檢測儀器。

      • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
      • 更新時間:2024-08-12
      • 訪  問  量:494

      詳細介紹

      品牌中圖儀器產(chǎn)地國產(chǎn)
      加工定制

      中圖儀器VT6000超分辨率轉(zhuǎn)盤共聚焦顯微鏡以共聚焦技術為原理,結合精密縱向掃描等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像,是實現(xiàn)器件表面形貌3D測量的光學檢測儀器。

      超分辨率轉(zhuǎn)盤共聚焦顯微鏡


      VT6000超分辨率轉(zhuǎn)盤共聚焦顯微鏡應用于半導體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學加工、微納材料制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業(yè)及航空航天、科研院所等領域中,可測各類包括從光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等參數(shù)。


      產(chǎn)品功能

      1)3D測量功能:設備具備表征微觀3D形貌的輪廓尺寸及粗糙度測量功能;

      2)影像測量功能:設備具備二維平面輪廓尺寸的影像測量功能,可進行長度、角度、半徑等尺寸測量;

      3)自動拼接功能:設備具備自動拼接功能,能夠?qū)崿F(xiàn)大區(qū)域的拼接縫合測量;

      4)數(shù)據(jù)處理功能:設備具備調(diào)整位置、糾正、濾波、提取四大模塊的數(shù)據(jù)處理功能;

      5)分析工具功能:設備具備粗糙度分析、幾何輪廓分析、結構分析、頻率分析、功能分析等五大分析功能;

      6)批量分析功能:設備具備一鍵分析和多文件分析等輔助分析功能,可實現(xiàn)批量數(shù)據(jù)文件的快速分析功能;

      7)便捷操作功能:設備配備操縱桿,支持操縱桿進行所有位置軸的操作及速度調(diào)節(jié)、光源亮度調(diào)節(jié)、急停等;

      8)光源安全功能:光源設置無人值守下的自動熄燈功能,當檢測到鼠標軌跡長時間未變動后會自主降低熄滅光源,防止光源高亮過熱損壞,并有效延長光源使用壽命;

      9)鏡頭安全功能:設備配備壓力傳感器,并在鏡頭處進行了彈簧結構設計,確保當鏡頭碰撞后彈性回縮,進入急停狀態(tài),大幅減小碰撞沖擊力,有效保護鏡頭和掃描軸,消除人為操作的安全風險。


      不同應用場景下的3D形貌

      主要應用于半導體、光學膜材、顯示行業(yè)、超精密加工等諸多領域中的微觀形貌和輪廓尺寸檢測中,其次是對表面粗糙度、面積、體積等參數(shù)的檢測中。

      3D形貌圖片:

      影像測量功能界面

      超分辨率轉(zhuǎn)盤共聚焦顯微鏡


      應用案例

      1、鐳射槽

      測量晶圓上激光鐳射槽的深度:半導體后道制造中,在將晶圓分割成一片片的小芯片前,需要對晶圓進行橫縱方向的切割,為確保減少切割引發(fā)的崩邊損失,會先采用激光切割機在晶圓表面燒蝕出U型或W型的引導槽,在工藝上需要對引導槽的槽型深寬尺寸進行檢測。

      超分辨率轉(zhuǎn)盤共聚焦顯微鏡

      2、光伏

      在太陽能電池制作工程中,柵線的高寬比決定了電池板的遮光損耗及導電能力,直接影響著太陽能電池的性能。共聚焦顯微鏡可以對柵線進行快速檢測。此外,太陽能電池制作過程中,制絨作為關鍵核心工藝,金字塔結構的質(zhì)量影像減反射焰光效果,是光電轉(zhuǎn)換效率的重要決定因素。共聚焦顯微鏡具有納米級別的縱向分辨能力,能夠?qū)﹄姵匕褰q面這種表面反射率低且形貌復雜的樣品進行三維形貌重建。

      超分辨率轉(zhuǎn)盤共聚焦顯微鏡

      3、其他

      超分辨率轉(zhuǎn)盤共聚焦顯微鏡

      部分技術指標

      型號VT6100


      行程范圍

      X100mm
      Y100mm
      Z100mm
      外形尺寸
      520*380*600mm
      儀器重量50kg
      測量原理共聚焦光學系統(tǒng)
      顯微物鏡10×;20×;50×;100×
      視場范圍120×120 μm~1.2×1.2 mm


      高度測量

      重復性(1σ)12nm
      顯示分辨率0.5nm


      寬度測量

      性(1σ)40nm
      顯示分辨率1nm
      XY位移平臺負載10kg
      控制方式電動
      Z0軸掃描范圍10mm
      物鏡塔臺5孔電動
      光源白光LED


      懇請注意:因市場發(fā)展和產(chǎn)品開發(fā)的需要,本產(chǎn)品資料中有關內(nèi)容可能會根據(jù)實際情況隨時更新或修改,恕不另行通知,不便之處敬請諒解。

      如有疑問或需要更多詳細信息,請隨時聯(lián)系中圖儀器咨詢。

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      • 地址:深圳市南山區(qū)西麗學苑大道1001號南山智園
      • 郵箱:sales@chotest.com
      • 傳真:86-755-83312849
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