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      首頁 > 產(chǎn)品中心 > 顯微測量儀 > 臺(tái)階儀 > NS200觸控面板薄膜厚度測量臺(tái)階儀

      觸控面板薄膜厚度測量臺(tái)階儀

      簡要描述:中圖儀器NS系列觸控面板薄膜厚度測量臺(tái)階儀是一款超精密接觸式微觀輪廓測量儀器,其主要用于臺(tái)階高、膜層厚度、表面粗糙度等微觀形貌參數(shù)的測量。其采用LVDC電容傳感器,具有的亞埃級(jí)分辨率和超微測力等特點(diǎn)使得其在薄膜厚度的測量上具有很強(qiáng)的優(yōu)勢(shì)。

      • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
      • 更新時(shí)間:2024-08-12
      • 訪  問  量:566

      詳細(xì)介紹

      品牌中圖儀器產(chǎn)地國產(chǎn)
      加工定制

      中圖儀器NS系列觸控面板薄膜厚度測量臺(tái)階儀是一款超精密接觸式微觀輪廓測量儀器,其主要用于臺(tái)階高、膜層厚度、表面粗糙度等微觀形貌參數(shù)的測量。其采用LVDC電容傳感器,具有的亞埃級(jí)分辨率和超微測力等特點(diǎn)使得其在薄膜厚度的測量上具有很強(qiáng)的優(yōu)勢(shì)。

      觸控面板薄膜厚度測量臺(tái)階儀

      如針對(duì)測量ITO導(dǎo)電薄膜的應(yīng)用場景,NS200臺(tái)階儀提供如下便捷功能:

      1)結(jié)合了360°旋轉(zhuǎn)臺(tái)的全電動(dòng)載物臺(tái),能夠快速定位到測量標(biāo)志位;

      2)對(duì)于批量樣件,提供自定義多區(qū)域測量功能,實(shí)現(xiàn)一鍵多點(diǎn)位測量;

      3)提供SPC統(tǒng)計(jì)分析功能,直觀分析測量數(shù)值變化趨勢(shì);


      NS系列觸控面板薄膜厚度測量臺(tái)階儀應(yīng)用場景適應(yīng)性強(qiáng),其對(duì)被測樣品的反射率特性、材料種類及硬度等均無特殊要求,能夠廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、太陽能光伏、光學(xué)加工、LED、MEMS器件、微納材料制備等各行業(yè)領(lǐng)域內(nèi)的工業(yè)企業(yè)與高校院所等科研單位,其對(duì)表面微觀形貌參數(shù)的準(zhǔn)確表征,對(duì)于相關(guān)材料的評(píng)定、性能的分析與加工工藝的改善具有重要意義。

      觸控面板薄膜厚度測量臺(tái)階儀

      產(chǎn)品功能

      1.參數(shù)測量功能

      1)臺(tái)階高度:能夠測量納米到330μm甚至1000μm的臺(tái)階高度,可以準(zhǔn)確測量蝕刻、濺射、SIMS、沉積、旋涂、CMP等工藝期間沉積或去除的材料;

      2)粗糙度與波紋度:能夠測量樣品的粗糙度和波紋度,分析軟件通過計(jì)算掃描出的微觀輪廓曲線,可獲取粗糙度與波紋度相關(guān)的Ra、RMS、Rv、Rp、Rz等20余項(xiàng)參數(shù);

      3)翹曲與形狀:能夠測量樣品表面的2D形狀或翹曲,如在半導(dǎo)體晶圓制造過程中,因多層沉積層結(jié)構(gòu)中層間不匹配所產(chǎn)生的翹曲或形狀變化,或者類似透鏡在內(nèi)的結(jié)構(gòu)高度和曲率半徑。

      2.數(shù)采與分析系統(tǒng)

      1)自定義測量模式:支持用戶以自定義輸入坐標(biāo)位置或相對(duì)位移量的方式來設(shè)定掃描路徑的測量模式;

      2)導(dǎo)航圖智能測量模式:支持用戶結(jié)合導(dǎo)航圖、標(biāo)定數(shù)據(jù)、即時(shí)圖像以智能化生成移動(dòng)命令方式來實(shí)現(xiàn)掃描的測量模式。

      3)SPC統(tǒng)計(jì)分析:支持對(duì)不同種類被測件進(jìn)行多種指標(biāo)參數(shù)的分析,針對(duì)批量樣品的測量數(shù)據(jù)提供SPC圖表以統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)的變化趨勢(shì)。

      3.光學(xué)導(dǎo)航功能

      配備了500W像素的彩色相機(jī),可實(shí)時(shí)將探針掃描軌跡的形貌圖像傳輸?shù)杰浖酗@示,進(jìn)行即時(shí)的高精度定位測量。

      4.樣品空間姿態(tài)調(diào)節(jié)功能

      配備了精密XY位移臺(tái)、360°電動(dòng)旋轉(zhuǎn)平臺(tái)和電動(dòng)升降Z軸,可對(duì)樣品的XYZ、角度等空間姿態(tài)進(jìn)行調(diào)節(jié),提高測量精度及效率。

      觸控面板薄膜厚度測量臺(tái)階儀

      性能特點(diǎn)

      1.亞埃級(jí)位移傳感器

      具有亞埃級(jí)分辨率,結(jié)合單拱龍門式設(shè)計(jì)降低環(huán)境噪聲干擾,確保儀器具有良好的測量精度及重復(fù)性;

      2.超微力恒力傳感器

      1-50mg可調(diào),以適應(yīng)硬質(zhì)或軟質(zhì)樣品表面,采用超低慣量設(shè)計(jì)和微小電磁力控制,實(shí)現(xiàn)無接觸損傷的接觸式測量;

      3.超平掃描平臺(tái)

      系統(tǒng)配有超高直線度導(dǎo)軌,杜絕運(yùn)動(dòng)中的細(xì)微抖動(dòng),真實(shí)地還原掃描軌跡的輪廓起伏和樣件微觀形貌。


      典型應(yīng)用

      觸控面板薄膜厚度測量臺(tái)階儀


      部分技術(shù)指標(biāo)

      型號(hào)NS200
      測量技術(shù)探針式表面輪廓測量技術(shù)
      樣品觀察光學(xué)導(dǎo)航攝像頭:500萬像素高分辨率 彩色攝像機(jī),FoV,2200*1700μm
      探針傳感器
      超低慣量,LVDC傳感器
      平臺(tái)移動(dòng)范圍X/Y電動(dòng)X/Y(150mm*150mm)(可手動(dòng)校平)
      單次掃描長度55mm
      樣品厚度50mm
      載物臺(tái)晶圓尺寸150mm(6吋),200mm(8吋)
      臺(tái)階高度重復(fù)性5 ?, 量程為330μm時(shí)/ 10 ?, 量程為1mm時(shí)(測量1μm臺(tái)階高度,1δ)
      尺寸(L×W×H)mm640*626*534
      重量40kg
      儀器電源100-240 VAC,50/60 Hz,200W

      使用環(huán)境

      相對(duì)濕度:濕度 (無凝結(jié))30-40% RH

      溫度:16-25℃ (每小時(shí)溫度變化小于2℃)

      地面振動(dòng):6.35μm/s(1-100Hz)

      音頻噪音:≤80dB

      空氣層流:≤0.508 m/s(向下流動(dòng))

      懇請(qǐng)注意:因市場發(fā)展和產(chǎn)品開發(fā)的需要,本產(chǎn)品資料中有關(guān)內(nèi)容可能會(huì)根據(jù)實(shí)際情況隨時(shí)更新或修改,恕不另行通知,不便之處敬請(qǐng)諒解。

      如有疑問或需要更多詳細(xì)信息,請(qǐng)隨時(shí)聯(lián)系中圖儀器咨詢。

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